Interazione sonda-campione nella microscopia a scansione di conduttanza ionica
Year: 2010
Authors: Tognoni E., Pellegrino M., Orsini P., Pellegrini M., Baschieri P., Dinelli F., Petracchi D., Ascoli C.
Autors Affiliation: INO
Journal/Review:
KeyWords: SICM; AFM;