Frequency metrology and precision spectroscopy in the infrared

Anno: 2002

Autori: De Natale P., Borri S., Cancio P., Giusfredi G., Mazzotti D.

Affiliazione autori: Istituto Nazionale di Ottica Applicata (INOA)

Giornale/Rivista: JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA B-OPTICAL PHYSICS

Parole chiavi: frequency metrology; infared spectroscopy;