Optical micro-profilometry for cultural heritage applications
Anno: 2009
Autori: Daffara C., Gambino M.C., Fontana R., Pampaloni E., Pezzati L.
Affiliazione autori: CNR – Istituto Nazionale di Ottica, Largo E. Fermi 6, 50125 Florence, Italy
Giornale/Rivista: JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA B-OPTICAL PHYSICS
Parole chiavi: microprofilometry
