Rapporto 3F-RT07006 Prot. INOA 109 del 5/02/2007 Misure di irradiamento spettrale generato da specular microscope per uso oftalmico (secondo UNI EN ISO 10940)
Anno: 2007
Autori: Fontani D., Francini F., Jafrancesco D., Mercatelli L., Sansoni P.
Affiliazione autori: INOA
Giornale/Rivista: JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA B-OPTICAL PHYSICS
Parole chiavi: fotometria; illuminotecnica; metrologia
