Sistema interferometrico per la misura simultanea dell’indice di rifrazione e dello spessore di materiali trasparenti e relativo procedimento
Anno: 2002
Autori: Ferraro P., Coppola G., Iodice M., De Nicola S.
Affiliazione autori: Consiglio Nazionale delle Ricerche
Giornale/Rivista: JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA B-OPTICAL PHYSICS
Parole chiavi: interferometria
