Sistema innovativo per misure spettofotometriche assolute di riflettanza su componenti ottici
Anno: 1989
Autori: Castellini C.
Affiliazione autori: Istituto Nazionale di Ottica, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy
Giornale/Rivista: JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA B-OPTICAL PHYSICS
Parole chiavi: riflettometro
