Indagini riflettografiche di sette miniature su avorio con scanner IR-colore ad alta risoluzione
Anno: 2005
Autori: Daffara C.
Affiliazione autori: INOA – Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze
Giornale/Rivista: JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA B-OPTICAL PHYSICS
Parole chiavi: diagnostica non invasiva
