Controlling images parameters in DH reconstruction and its application for MEMS inspection
Anno: 2004
Autori: Coppola G., Ferraro P., De Nicola S., Alfieri D., Finizio A., Pierattini G.
Affiliazione autori: Istituto per la Microelettronica e i Microsistemi – CNR, Via Pietro Castellino 111, 80131, Napoli, Italy;
Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Sez. di Napoli,, Via Campi Flegrei 34, 80078 Pozzuoli (NA), Italy;
Istituto di Cibernetica “E. Caianiello” – CNR, Via Campi Flegrei 34, 80078 Pozzuoli (NA), Italy
Giornale/Rivista: JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA B-OPTICAL PHYSICS
Parole chiavi: Micro-Electro-Mechanical Systems
