Effetti di campi di microtemperatura nella misura della planarità per via interferometrica
Anno: 1998
Autori: Greco V., Marchesini F., Molesini G.
Affiliazione autori: Istituto Nazionale di Ottica, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy
Giornale/Rivista: JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA B-OPTICAL PHYSICS
Parole chiavi: interferometria
