Optical Micro-profilometry for Roughness Measurement

Anno: 2007

Autori: Fontana R., Daffara C., Gambino M.C., Pampaloni E., Pezzati L.

Affiliazione autori: INOA-CNR Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy

Giornale/Rivista: JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA B-OPTICAL PHYSICS

Parole chiavi: Optical Microprofilometry; Roughness Measurement;