Misura delle caratteristiche di un reticolo micrometrico (ID 172 scala per durometri). Laboratorio Misure e Collaudi Ottici, Relazione Tecnica 05/04, Prot. n. 1870, 17/09/2004
Anno: 2004
Autori: Vannoni M., Molesini G.
Affiliazione autori: Istituto Nazionale di Ottica Applicata
Giornale/Rivista: JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA B-OPTICAL PHYSICS
Parole chiavi: misure ottiche
