Interferometria olografica a tutto tondo con un sistema ottico a specchi
Year: 2002
Authors: Vannoni M., Rovai L., Trivi M., Molesini G.
Autors Affiliation: Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy
Journal/Review:
KeyWords: interferometria olografica