Interferometria olografica a tutto tondo con un sistema ottico a specchi

Year: 2002

Authors: Vannoni M., Rovai L., Trivi M., Molesini G.

Autors Affiliation: Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy

Journal/Review:

KeyWords: interferometria olografica