Microscopie ottiche a scansione

Year: 2004

Authors: Quercioli F., Girelli A., Tiribilli B., Vassalli M., Molesini G., Vannoni M.

Autors Affiliation: Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy

Conference title: 8° Convegno Nazionale “Strumentazione e Metodi di Misura Elettroottici” (Elettroottica 2004)
Place: Pavia

KeyWords: Microscopia