Does interferometer monitor thickness or optical-path variations?

Anno: 1998

Autori: Ferraro P.

Affiliazione autori: IPSIA

Giornale/Rivista: JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA B-OPTICAL PHYSICS

Volume: 36 (4)      Da Pagina: 198  A: 198

Parole chiavi: light interferometers; glass; thickness measurement; refractive index; thermal expansion
DOI: 10.1119/1.880036