Interferometric technique for characterization of ferroelectric crystals properties and microengineering process
Anno: 2005
Autori: Grilli S., Ferraro P., Alfieri D., Paturzo M., Sansone L., De Nicola S., De Natale P.
Affiliazione autori: CNR – Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Via Campi Flegrei 34, 80078 Pozzuoli (NA), Italy
Titolo Convegno: Fringe 2005 – The 5th International Workshop on Automatic Processing of Fringe Patterns”
Luogo: Stuttgart – Germany
Parole chiavi: key word 1
