Tecnologie diagnostiche per i Beni Culturali all’Istituto Nazionale di Ottica Applicata
Anno: 2002
Autori: Fontana R., Greco M., Materazzi M., Pampaloni E., Pezzati L.
Affiliazione autori: Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy;
Giornale/Rivista: JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA B-OPTICAL PHYSICS
Parole chiavi: diagnostica ottica; beni culturali;