Indagini diagnostiche ottiche: Riflettografia infrarossa e Microrilievo della superficie

Anno: 2004

Autori: Fontana R., Gambino M.C., Greco M., Materazzi M., Pampaloni E., Pezzati L.

Affiliazione autori: INOA – Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy

Giornale/Rivista: JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA B-OPTICAL PHYSICS

Parole chiavi: Riflettografia infrarossa; microprofilometria;