Stazione di lavoro per lo studio del microrilievo delle superfici
Anno: 1991
Autori: Quercioli F., Molesini G.
Affiliazione autori: Istituto Nazionale di Ottica, Largo E. Fermi 6, 50125 Firenze, Italy
Abstract: N.A.
Giornale/Rivista: JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA B-OPTICAL PHYSICS
Volume: 19(4) Da Pagina: 22 A: 24
Parole chiavi: Profilometria
