Interazione sonda-campione nella microscopia a scansione di conduttanza ionica
Anno: 2010
Autori: Tognoni E., Pellegrino M., Orsini P., Pellegrini M., Baschieri P., Dinelli F., Petracchi D., Ascoli C.
Affiliazione autori: INO
Giornale/Rivista:
Parole chiavi: SICM; AFM;