Sistema interferometrico per la misura simultanea dell’indice di rifrazione e dello spessore di materiali trasparenti e relativo procedimento

Anno: 2002

Autori: Ferraro P., Coppola G., Iodice M., De Nicola S.

Affiliazione autori: Consiglio Nazionale delle Ricerche

Giornale/Rivista:

Parole chiavi: interferometria