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Autore: Ascoli Cesare Categoria: Conference proceedings 

1) Scanning ion conductance microscopy (SICM): from measuring cell mechanical properties to guiding neuron growth
Di: Pellegrino M., Orsini P., Pellegrini M., Tognoni E., Ascoli C., Baschieri P., Dinelli F., Anno: 2013 (Cit.: 0 DOI: 10.1117/12.2021541)

2) Use of scanning ion conductance microscopy to map elastic properties of cell membranes
Di: Pellegrino M., Orsini P., Pellegrini M., Tognoni E., Baschieri P., Dinelli F., Petracchi D., Ascoli C. Anno: 2011 (Cit.: 0 DOI: 10.1109/IWBP.2011.5954800)

3) Una sonda ibrida AFM/SNOM integrata in fibra ottica
Di: Tiribilli B., Margheri G., Baschieri P., Ascoli C., Menozzi C., Chavan D., Iannuzzi D. Anno: 2010 (Cit.: 0)

4) Interazione sonda-campione nella microscopia a scansione di conduttanza ionica utilizzata per la guida dei coni di crescita neuronali
Di: Pellegrini M., Orsini P., Pellegrini M., Baschieri P., Dinelli F., Petracchi D., Tognoni E., Ascoli C. Anno: 2010 (Cit.: 0)

5) Simultaneous force ad optical tunneling microscopy with 3-D interaction mapping using SI3N4 probes
Di: Mannoni S., Ascoli C., Baschieri P., Frediani C., Quercioli F., Tiribilli B. Anno: 1996 (Cit.: 0)